符合標(biāo)準(zhǔn):

AEC-Q100，MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等試驗標(biāo)準(zhǔn)。

適用范圍:

適用于各種封裝數(shù)字、模擬、數(shù)?；旌想娐愤M行高溫動態(tài)老化試驗。

技術(shù)特點:

一板一區(qū)，可滿足多種不同試驗參數(shù)的器件同時老化。

完善的、種類齊全的老化器件數(shù)據(jù)庫可供用戶調(diào)用。

64路回檢信號，可設(shè)置回檢通道信號出錯依據(jù)，并判斷該通道信號是否正常。